對學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在程控直流電源電路板上設置測驗點(diǎn)(test point)是在天然不過(guò)的事了，但是對學(xué)機械的人來(lái)說(shuō)，測驗點(diǎn)是什么?
基本上設置測驗點(diǎn)的意圖是為了測驗程控直流電源電路板上的零組件有沒(méi)有契合標準以及焊性，比如說(shuō)想檢查一顆程控直流電源電路板上的電阻有沒(méi)有問(wèn)題，最簡(jiǎn)略的辦法就是拿萬(wàn)用電表量測其兩頭就能夠知道了。
但是在大批量出產(chǎn)的工廠(chǎng)里沒(méi)有辦法讓你用電表漸漸去量測每一片板子上的每一顆電阻、電容、電感、甚至是IC的電路是否正確，所以就有了所謂的ICT(In-Circuit-Test)自動(dòng)化測驗機臺的呈現，它運用多根探針(一般稱(chēng)之為「針床(Bed-Of-Nails)」治具)同時(shí)觸摸板子上一切需求被量測的零件線(xiàn)路，然后經(jīng)由程控以序列為主， 并列為輔的辦法循序量測這些電子零件的特性，一般這樣測驗一般板子的一切零件只需求1~2分鐘左右的時(shí)刻能夠完結，視程控直流電源電路板上的零件多寡而定，零件越多時(shí)刻越長(cháng)。
但是假如讓這些探針直觸摸摸到板子上面的電子零件或是其焊腳，很有可能會(huì )壓毀一些電子零件，反而拔苗助長(cháng)，所以聰明的工程師就發(fā)明晰「測驗點(diǎn)」，在零件的兩頭額定引出一對圓形的小點(diǎn)，上面沒(méi)有防焊(mask)，能夠讓測驗用的探針觸摸到這些小點(diǎn)，而不必直觸摸摸到那些被量測的電子零件。
前期在程控直流電源電路板上面還都是傳統插件(DIP)的時(shí)代，確實(shí)會(huì )拿零件的焊腳來(lái)當作測驗點(diǎn)來(lái)用，因為傳統零件的焊腳夠健壯，不怕針扎，但是常常會(huì )有探針觸摸不良的誤判景象發(fā)生，因為一般的電子零件通過(guò)波峰焊(wave soldering)或是SMT吃錫之后，在其焊錫的外表一般都會(huì )構成一層錫膏助焊劑的殘留薄膜，這層薄膜的阻抗非常高， 常常會(huì )形成探針的觸摸不良，所以其時(shí)常?？梢?jiàn)產(chǎn)線(xiàn)的測驗作業(yè)員，常常拿著(zhù)空氣噴槍拼命的吹，或是拿酒精擦洗這些需求測驗的當地。
其實(shí)通過(guò)波峰焊的測驗點(diǎn)也會(huì )有探針觸摸不良的問(wèn)題。 后來(lái)SMT盛行之后，測驗誤判的景象就得到了很大的改進(jìn)，測驗點(diǎn)的運用也被大大地賦予重擔，因為SMT的零件一般很軟弱，無(wú)法承受測驗探針的直觸摸摸壓力，運用測驗點(diǎn)就能夠不必讓探針直觸摸摸到零件及其焊腳，不光維護零件不受損害，也直接大大地提高測驗的牢靠度，因為誤判的景象變少了。
不過(guò)跟著(zhù)科技的演進(jìn)，程控直流電源電路板的尺度也越來(lái)越小，小小地程控直流電源電路板上面光要擠下這么多的電子零件都已經(jīng)有些費勁了，所以測驗點(diǎn)占用程控直流電源電路板空間的問(wèn)題，常常在規劃端與制造端之間拔河，不過(guò)這個(gè)議題等今后有時(shí)機再來(lái)談。測驗點(diǎn)的外觀(guān)一般是圓形，因為探針也是圓形，比較好出產(chǎn)，也比較簡(jiǎn)單讓相鄰探針靠得近一點(diǎn)，這樣才能夠添加針床的植針密度。
1. 運用針床來(lái)做電路測驗會(huì )有一些組織上的先天上約束，比如說(shuō)：探針的最小直徑有必定極限，太小直徑的針簡(jiǎn)單折斷毀損。
2. 針間間隔也有必定約束，因為每一根針都要從一個(gè)孔出來(lái)，并且每根針的后端都還要再焊接一條扁平電纜，假如相鄰的孔太小，除了針與針之間會(huì )有觸摸短路的問(wèn)題，扁平電纜的干涉也是一大問(wèn)題。
3. 某些高零件的周?chē)鸁o(wú)法植針。 假如探針間隔高零件太近就會(huì )有磕碰高零件形成損害的風(fēng)險，別的因為零件較高，一般還要在測驗治具針床座上開(kāi)孔避開(kāi)，也直接形成無(wú)法植針。程控直流電源電路板上越來(lái)越難包容的下一切零件的測驗點(diǎn)。
4. 因為板子越來(lái)越小，測驗點(diǎn)多寡的存廢屢次被拿出來(lái)評論，現在已經(jīng)有了一些削減測驗點(diǎn)的辦法呈現，如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG.。 等;也有其它的測驗辦法想要替代本來(lái)的針床測驗，如AOI、X-Ray，但目前每個(gè)測驗好像都還無(wú)法100%替代ICT。
關(guān)于ICT的植針才能應該要問(wèn)詢(xún)配合的治具廠(chǎng)商，也就是測驗點(diǎn)的最小直徑及相鄰測驗點(diǎn)的最小間隔，一般多會(huì )有一個(gè)希望的最小值與才能能夠達到的最小值，但有規劃的廠(chǎng)商會(huì )要求最小測驗點(diǎn)與最小測驗點(diǎn)間間隔不能夠超越多少點(diǎn)，不然治具還簡(jiǎn)單毀損。
|
|
|
說(shuō)明:本頁(yè)面文章由()整理發(fā)布.文章地址： http:///gongsixinwen/290.html
|
手機掃描二維碼
